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FEINmetaLL主要產品：彈簧接觸探針：ICT/FCT 探針、線束探針、線束測試、射頻探針、同軸探針、大電流探針、電池測試探針、開關探針、細間距探針和晶圓探針卡：懸臂式、垂直式、ViProbe?、 CiProbe?、FeinProbe?、MμProbe?

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自 1964 年以來，FEINMETALL GmbH 一直是彈簧接觸式探針和晶圓探針卡的領先公司。FEINMETALL熱衷于開發和制造用于測試電氣和電子元件的接觸解決方案。FEINMETALL的產品被用于半導體、電子電氣和汽車行業，以及許多其他領域。無論世界上哪里需要掌握測試工作，FEINMETALL 很有可能就在眼前。FEINMETALL始終把握市場脈搏，并在美國、亞洲和歐洲的許多地點為FEINMETALL的客戶提供現場服務。彈簧接觸探頭用于測試印刷電路板、線束、連接器和其他電子元件。FEINMETALL為每個特定的接觸任務提供范圍廣泛的接觸式探針品種，始終根據客戶的需求量身定制。晶圓探針卡用于接觸半導體晶圓。FEINMETALL的解決方案包括垂直探針卡、焊盤和銅柱探針卡、WLCSP 探針卡、SiP 模擬和混合信號倒裝芯片應用以及懸臂探針卡。即使是最困難的接觸任務，高度專業化的開發和工程團隊也能為FEINMETALL的客戶找到最佳解決方案。

FEINMETALL主要產品：彈簧接觸探針：ICT/FCT 探針、線束探針、線束測試、射頻探針、同軸探針、大電流探針、電池測試探針、開關探針、細間距探針和晶圓探針卡：懸臂式、垂直式、ViProbe®、 CiProbe®、FeinProbe®、MµProbe®

FEINMETALL主要應用領域：半導體接觸、連接器接觸、PCB接觸、電池接觸等。

FEINMETALL主要型號：H732LARDIS、F82955B090G120、1860C011、TC77 MATEnet-M 01 LA S、TC77 H-MTD-M 01 DR S、TC77 H-MTD-F 01 DR S、Rundzellen HC13B06150G、HF66-0043、HF66-0075、HF77-0002BG02-1、FXB-CY-01-10、HC04A06135G、HC04A06203G、HF77-0003BG04-1、HF77-0003BG01-1、HF77-0003BG02-1、HF86011B0032G830、HF82955B0001G1860、HF77-0006BG01-1、HF86-0001、HF86-0002、HF86-0003、HF77-0007BG01-1、HF77-0001BG01-2、HF86055B0033G950、L10017B150G100、L10017B200G100、L10019B150G100、L10019B200G100、L10006B200G100、L10006B150G100、L10019B150G150、L10019B200G150、L10017B300G100、F72406B200G150、F77205B200G300C、F10111B075G060、HF86005B0030G930M、TC77 MTD-M 01 DR S、HF77-0005BG01-1等

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